Abstrait

Revisiter la technique de diffraction des rayons X sur poudre : un outil puissant pour caractériser les polymères et leurs films composites

Nithin Kundachira Subramani

Les polymères et leurs composites hybrides suscitent un intérêt considérable chez les scientifiques des matériaux, en raison de leurs applications fascinantes dans les produits finis. La demande toujours croissante de systèmes composites à base de polymères a obligé la communauté scientifique à concevoir, développer et caractériser de nouveaux composites hybrides pour des applications de matériaux avancés. Ainsi, les outils de caractérisation avancés sont très demandés pour la recherche sur les matériaux. La diffraction des rayons X sur poudre (P-XRD) est l'un de ces outils de caractérisation qui offre l'avantage de caractériser simultanément le précurseur et les produits finis avec une présentation qualitative détaillée de leurs comportements microstructuraux. Ici, nous revisitons la P-XRD comme un outil puissant pour caractériser les polymères et leurs films composites avec des preuves bibliographiques appropriées.